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蘇州鍍層測厚儀的原理

時間:2024-09-08瀏覽數(shù):759

蘇州鍍層測厚儀,作為表面質(zhì)量控制的精密工具,其原理主要基于多種物理效應,以滿足不同材質(zhì)與涂層的測量需求。
其中,較為常見的測量原理包括射線透射法、磁感應法及電渦流法。
射線透射法,特別是X射線或γ射線技術,利用射線穿透被測物體時強度的衰減來推算鍍層厚度。
射線通過鍍層和基底材料時,會因材料吸收能力的不同而發(fā)生不同程度的衰減,通過測量透射射線的強度變化,結(jié)合材料的吸收常數(shù),即可精確計算出鍍層厚度。
此方法尤其適用于極薄鍍層、雙鍍層及合金鍍層的測量,具有非接觸、無損檢測的優(yōu)勢。
磁感應法則適用于鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層厚度測量。
其原理基于永久磁鐵(測頭)與導磁鋼材之間吸力大小與距離(即覆層厚度)的成比例關系。
當測頭靠近被測樣品時,通過測量磁通量或磁阻的變化來反映覆層厚度。
這種方法操作簡便、堅固耐用,廣泛應用于鋼鐵表面油漆層、塑料、橡膠覆層及電鍍層的測量。
電渦流法則專注于非鐵磁金屬基材上覆層厚度的測量。
高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場,當測頭靠近導體時,會在其中形成渦流。
渦流的大小與測頭到導電基體的距離(即覆層厚度)密切相關,通過測量渦流引起的阻抗或相位變化來確定覆層厚度。
該方法在測量銅、鋁等有色金屬表面的絕緣層厚度時表現(xiàn)出色。
綜上所述,蘇州鍍層測厚儀通過綜合運用射線透射、磁感應及電渦流等多種測量原理,為不同材質(zhì)和應用場景下的鍍層厚度測量提供了高效、精準的解決方案,是現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中不可或缺的質(zhì)量控制工具。


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